In-circuit electrical test system with direct interface and machine learning algorithms

11CP26-2

Authors

Keywords:

in-circuit test, direct interface circuits, machine learning

Author Biographies

Geu Misael Puentes Conde, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez

Doctorado en Tecnología, Ingeniería Industrial y Manufactura, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez, México

Javier Molina Salazar, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez

Professor-researcher, Departamento de Ingeniería Industrial y Manufactura, Instituto de Ingeniería y Tecnología, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez; Ciudad Juárez, Chih., México

Ernesto Sifuentes de la Hoya, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez

Professor-researcher, Departamento de Ingeniería Eléctrica y Computación, Instituto de Ingeniería y Tecnología, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez; Ciudad Juárez, Chih., México

Portada de Memorias Científicas y Tecnológicas

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Published

2026-06-12

How to Cite

[1]
G. M. Puentes Conde, J. . Molina Salazar, and E. . Sifuentes de la Hoya, “ In-circuit electrical test system with direct interface and machine learning algorithms: 11CP26-2”, Mem. Científ. y Tecnol., vol. 5, no. 4, pp. 8–9, Jun. 2026.

Issue

Vol. 5 No. 4 (2026): 11th IIT Postgraduate Colloquium

Section

11.º Coloquio de Posgrados del IIT