Sistema de prueba eléctrica in-circuit con interfaz directa y algoritmos de aprendizaje automático

11CP26-2

Autores/as

Palabras clave:

prueba eléctrica in-circuit, circuitos de interfaz directa, aprendizaje automático

Biografía del autor/a

Geu Misael Puentes Conde, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez

Doctorado en Tecnología, Ingeniería Industrial y Manufactura, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez, México

Javier Molina Salazar, Universidad Autonoma de Ciudad Juarez

Profesor-investigador, Departamento de Ingeniería Industrial y Manufactura, Instituto de Ingeniería y Tecnología, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez; Ciudad Juárez, Chih., México

Ernesto Sifuentes de la Hoya, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez

Profesor-investigador, Departamento de Ingeniería Eléctrica y Computación, Instituto de Ingeniería y Tecnología, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez; Ciudad Juárez, Chih., México

Portada de Memorias Científicas y Tecnológicas

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Publicado

2026-06-12

Cómo citar

[1]
G. M. Puentes Conde, J. . Molina Salazar, y E. . Sifuentes de la Hoya, «Sistema de prueba eléctrica in-circuit con interfaz directa y algoritmos de aprendizaje automático : 11CP26-2», Mem. Científ. y Tecnol., vol. 5, n.º 4, pp. 8–9, jun. 2026.

Número

Vol. 5 Núm. 4 (2026): 11.º Coloquio de Posgrados del IIT

Sección

11.º Coloquio de Posgrados del IIT