Reducing hardware connectivity failures in test yield at server testing

Autores/as

Palabras clave:

design of experiments (DOE), Taguchi method, First-Pass Yield, process optimization

Biografía del autor/a

Lorenzo Alberto Proa Ochoa, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez

Departamento de Ingeniería Industrial y Manufactura, Instituto de Ingeniería y Tecnología, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez, México

Manuel Román Piña Monarrez, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez

Departamento de Ingeniería Industrial y Manufactura, Instituto de Ingeniería y Tecnología, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez, México

MEMCYT vol. 5, no. 1 (Edición especial)

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Publicado

2026-03-12

Cómo citar

[1]
L. A. Proa Ochoa y M. R. Piña Monarrez, «Reducing hardware connectivity failures in test yield at server testing», Mem. Científ. y Tecnol., vol. 5, n.º 1, pp. 42–43, mar. 2026.

Número

Vol. 5 Núm. 1 (2026): Edición Especial "Fronteras de la Ingeniería y Transformación Tecnológica"

Sección

Carteles Académicos: Maestría en Ingeniería Industrial