Attributes on 2H-MoS₂ surfaces with Scanning Electron Microscopy

7CP24-11

Authors

Keywords:

MoS₂, thin film, SEM, attributes

Author Biographies

Adrián David Barrandey, Estudiante

Estudiante, Maestría en Ciencias de los Materiales, Departamento de Física y Matemáticas, Instituto de Ingeniería y Tecnología, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez, México

Manuel Antonio Ramos Murillo, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez

Profesor-investigador, Departamento de Física y Matemáticas, Instituto de Ingeniería y Tecnología, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez, México

Abel Hurtado Macías, Centro de Investigaciones en Materiales Avanzados

Investigador, Laboratorio Nacional de Nanotecnología, Centro de Investigaciones en Materiales Avanzados, Unidad Chihuahua, México

7o Coloquio

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Published

2024-06-03

How to Cite

[1]
A. D. Barrandey, M. A. Ramos Murillo, and A. Hurtado Macías, “Attributes on 2H-MoS₂ surfaces with Scanning Electron Microscopy: 7CP24-11”, Mem. Científ. y Tecnol., vol. 3, no. 2, pp. 21–22, Jun. 2024.

Issue

Vol. 3 No. 2 (2024): June

Section

7th IIT Postgraduate Colloquium