Atributos en superficies de 2H-MoS₂ con Microscopia Electrónica en Barrido: 7CP24-11

Adrián David Barrandey; Manuel Antonio Ramos Murillo; Abel Hurtado Macías

Autores/as

Adrián David Barrandey Estudiante
Dr. Manuel Antonio Ramos Murillo Universidad Autónoma de Ciudad Juárez https://orcid.org/0000-0002-1781-054X
Dr. Abel Hurtado Macías Centro de Investigaciones en Materiales Avanzados https://orcid.org/0000-0002-0406-3776

Palabras clave:

MoS₂, película delgada, MEB, atributos

Biografía del autor/a

Adrián David Barrandey, Estudiante

Estudiante, Maestría en Ciencias de los Materiales, Departamento de Física y Matemáticas, Instituto de Ingeniería y Tecnología, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez, México

Dr. Manuel Antonio Ramos Murillo, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez

Profesor-investigador, Departamento de Física y Matemáticas, Instituto de Ingeniería y Tecnología, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez, México

Dr. Abel Hurtado Macías, Centro de Investigaciones en Materiales Avanzados

Investigador, Laboratorio Nacional de Nanotecnología, Centro de Investigaciones en Materiales Avanzados, Unidad Chihuahua, México

Atributos en superficies de 2H-MoS₂ con Microscopia Electrónica en Barrido

7CP24-11

Autores/as

Palabras clave:

Biografía del autor/a

Adrián David Barrandey, Estudiante

Dr. Manuel Antonio Ramos Murillo, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez

Dr. Abel Hurtado Macías, Centro de Investigaciones en Materiales Avanzados

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