Atributos en superficies de 2H-MoS₂ con Microscopia Electrónica en Barrido

7CP24-11

Autores/as

Palabras clave:

MoS₂, película delgada, MEB, atributos

Biografía del autor/a

Adrián David Barrandey, Estudiante

Estudiante, Maestría en Ciencias de los Materiales, Departamento de Física y Matemáticas, Instituto de Ingeniería y Tecnología, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez, México

Dr. Manuel Antonio Ramos Murillo, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez

Profesor-investigador, Departamento de Física y Matemáticas, Instituto de Ingeniería y Tecnología, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez, México

Dr. Abel Hurtado Macías, Centro de Investigaciones en Materiales Avanzados

Investigador, Laboratorio Nacional de Nanotecnología, Centro de Investigaciones en Materiales Avanzados, Unidad Chihuahua, México

7o Coloquio

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Publicado

2024-06-03

Cómo citar

[1]
A. D. Barrandey, M. A. Ramos Murillo, y A. Hurtado Macías, «Atributos en superficies de 2H-MoS₂ con Microscopia Electrónica en Barrido: 7CP24-11», Mem. Científ. y Tecnol., vol. 3, n.º 2, pp. 21–22, jun. 2024.

Número

Vol. 3 Núm. 2 (2024): Junio

Sección

7o Coloquio de Posgrados del IIT