Sistema de prueba eléctrica in-circuit con interfaz directa y algoritmos de aprendizaje automático

9CP25-4

Autores/as

Palabras clave:

prueba eléctrica in-circuit, circuitos de interfaz directa, aprendizaje automático

Biografía del autor/a

Geu Misael Puentes, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez

Doctorado en Tecnología, Departamento de Ingeniería Industrial y Manufactura, Instituto de Ingeniería y Tecnología, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez, México

Javier Molina, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez

Profesor-investigador, Departamento de Ingeniería Industrial y Manufactura, Instituto de Ingeniería y Tecnología, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez, México

Ernesto Sifuentes, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez

Profesor-investigador, Departamento de Ingeniería Eléctrica y Computación, Instituto de Ingeniería y Tecnología, Universidad Autónoma de Ciudad Juárez, México

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Publicado

2025-06-02

Cómo citar

[1]
G. M. Puentes, J. Molina, y E. Sifuentes, «Sistema de prueba eléctrica in-circuit con interfaz directa y algoritmos de aprendizaje automático : 9CP25-4», Mem. Científ. y Tecnol., vol. 4, n.º 1, p. 11, jun. 2025.

Número

Sección

9o Coloquio de Posgrados del IIT