Puentes Conde, Geu Misael, Javier Molina Salazar, y Ernesto Sifuentes de La Hoya. «Sistema De Prueba eléctrica In-Circuit Integrado Con Interfaz Directa Y técnicas De Aprendizaje automáticos». Memorias Científicas y Tecnológicas 4, no. 2 (septiembre 30, 2025): 109–110. Accedido diciembre 5, 2025. https://erevistas.uacj.mx/ojs/index.php/memoriascyt/article/view/7298.