Durán Chacón, J. A., and F. J. García Luna. “Vision System for Detecting Defects in Electronic Circuit Boards”. Memorias Científicas Y Tecnológicas, vol. 5, no. 1, Mar. 2026, pp. 10-11, https://erevistas.uacj.mx/ojs/index.php/memoriascyt/article/view/7604.