[1]
G. M. Puentes Conde, J. . Molina Salazar, y E. . Sifuentes de la Hoya, «Sistema de prueba eléctrica in-circuit con interfaz directa y algoritmos de aprendizaje automático : 11CP26-2», Mem. Científ. y Tecnol., vol. 5, n.º 4, pp. 8–9, jun. 2026.