[1]
G. M. Puentes Conde, J. Molina Salazar, y E. Sifuentes de La Hoya, «Sistema de prueba eléctrica In-Circuit integrado con interfaz directa y técnicas de aprendizaje automáticos», Mem. Científ. y Tecnol., vol. 4, n.º 2, pp. 109–110, sep. 2025.