Pronóstico de fallas y gestión de salud para la estimación del periodo de vida útil en dispositivos de sensado de pixeles activos (CMOS-APS)

Resumen no. 2CP21-66

Autores/as

Palabras clave:

PHM, CMOS-APS, vida útil, vida acelerada, estimación

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Publicado

2021-11-07

Número

Sección

Coloquio de Posgrados IIT